头戴耳机按键开关寿命试验机

头戴耳机按键开关寿命试验机

详细信息

品牌：迈科	型号：MK-9635K	加工定制：是
类型：高频	外形尺寸：480×440×780mm mm	重量：45 kg
适用范围：头戴耳机按键寿命测试	装箱数：1

头戴耳机按键开关寿命试验机

型号：MK-9635K

设备简介：
头戴耳机按键开关寿命试验机用于头戴耳机、蓝牙耳机、耳机充电盒、助听器、手机耳机、线控耳机等按键寿命试验。头戴耳机按键寿命试验机是将耳机分别置于对应工位上，按压头在一定的试验荷重、速度、行程、次数下模拟对产品的使用寿命测试。

技术参数：
1、试验工位：四组（联动测试）
2、荷重砝码：50、100、200、300、500g各四个
3、试验次数：0-99999999次（可预置，断电记忆）
4、导通次数：0-999999次（断开停止计数）
5、试验速度：5-65次/分（旋钮可调，数字显示）
6、测试行程：12mm
7、固定治具：四组可调，满足头戴耳机
8、按压装置：四组，前后左右可调
9、机台尺寸：480×440×780mm
10、工作电源：AC220V、50Hz

设备特点：
  1、箱体采用静电烤漆处理，整机设计合理结构紧固，运行稳定、安全、准确；
  2、试验夹具、行程可调，应用广泛；
  3、四组工位同时工作，测试效率提高；
  4、试验速度、次数可调，人性化设计，操作方便快捷。

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