• 头戴耳机交叉错位寿命试验机

    详细信息

     品牌:迈科  型号:MK-9651S  加工定制:是  
     类型:高频  外形尺寸:600×530×650mm mm 重量:50 kg 
     适用范围:头戴耳机交叉错位寿命试验  装箱数:1   
    头戴耳机交叉错位寿命试验机
     
    型号:MK-9651S

    设备简介:
       头戴耳机交叉错位寿命试验机用于头戴耳机扭曲寿命测试。头戴耳机交叉错位寿命试验机是将头戴耳机左右两端分别固定在左右治具上,按照一定行程以及相反方向来回往复扭曲测试。

    技术参数:
     1、试验工位:一组
     2、试验次数:0-99999999次(可预置,断电记忆)
     3、扭曲速度:5-60次/分(旋钮可调,数字显示)
     4、左治具移动行程:10-60mm(可调)
     5、右治具移动行程:10-60mm(可调)
     6、左右治具前后距离:60-160mm(可调)
     7、中间导杆:高度300mm
     8、机台尺寸:600×530×650mm
     9、工作电源:AC220V、50Hz

    设备特点:
     1、箱体采用静电烤漆处理,台面以及治具均采用纯铝氧化处理,整机美观大
    方,设计合理,结构紧固,运行安全稳定,符合测试要求;

     2、试验次数、速度可调且显示,人性化设计;
     3、治具移动行程、夹持范围以及前后距离可调,满足不同规格耳机测试,适用广泛。
     
     

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主营产品:微电脑插拔力试验机,微电脑拉力试验机,落球冲击试验机,耐磨擦试验机,线材伸长率试验机,按键寿命试验机
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