TWS蓝牙耳机充电盒开合寿命试验机

TWS蓝牙耳机充电盒开合寿命试验机

详细信息

品牌：迈科	型号：MK-011	加工定制：是
类型：高频	外形尺寸：500×450×550mm mm	重量：60 kg
适用范围：充电盒翻盖寿命测试	装箱数：1

            充电盒翻盖寿命试验机

型号：MK-011

设备简介：
  充电盒翻盖寿命试验机用于耳机充电盒、翻盖手机、保护套等产品翻盖寿命测试，充电盒翻盖寿命试验机采用触摸屏控制，在一定角度、次数、速度模拟产品翻盖寿命测试。

技术参数：
  1、测试工位：两组（同时联动测试）
  2、试验角度：0-180度（触摸屏可设且显示）
　3、测试速度：5-60次/分钟（触摸屏可设）
  4、翻盖次数：0-99999999次（可预设且断电记忆功能）
　5、摆臂长度：0-100mm（可调节）
  6、测试台面高度：0-50mm（可调节）
  7、固定治具：可调式，两组
  8、测试动作：打开翻盖＋闭合关闭
  9、控制系统：触摸屏＋PLC
10、驱动系统：两组步进电机＋减速系统
11、机台尺寸（L×W×H）：约500×450×550mm
12、工作电源：AC220V、50Hz

设备特点：
  1、箱体采用静电烤漆处理，台面采用纯铝板氧化处理，整机设计合理，结构紧固，运行安全、稳定、准确；
  2、角度、次数、速度等参数，触摸屏设置且显示，操作方便、快捷；
  3、两组步进电机驱动，一开一合，效率快、噪音小，耐久性强。

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